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  • HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻測試儀
    HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻測試儀

    更新時間:2025-07-04

    型號:

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    HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻測試儀:熱電效應描述了材料中溫度和電的相互影響,它基于三個基本效應:塞貝克效應、珀爾帖效應和湯姆森效應。塞貝克效應是1821年由德國物理學家J. T. Seebeck發(fā)現(xiàn)的,描述了在電絕緣導體中施加溫度梯度時電場的形成。
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  • HCAM-50KV四象限輸出高壓放大器
    HCAM-50KV四象限輸出高壓放大器

    更新時間:2025-05-29

    型號:

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    HCAM-50KV四象限輸出高壓放大器是一款直流穩(wěn)定的高電壓功率放大器,采用全固態(tài)設(shè)計,具有高轉(zhuǎn)換速率、寬帶寬和低噪聲操作。用于工業(yè)和科研用途的高壓功率放大器,采用全固態(tài)設(shè)計,可實現(xiàn)高轉(zhuǎn)換速率、高帶寬和低噪聲輸出。
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  • 華測儀器高轉(zhuǎn)換速率HCAM-7KV高壓功率放大器
    華測儀器高轉(zhuǎn)換速率HCAM-7KV高壓功率放大器

    更新時間:2025-05-29

    型號:

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    華測儀器高轉(zhuǎn)換速率HCAM-7KV高壓功率放大器是一款直流穩(wěn)定的高電壓功率放大器,采用全固態(tài)設(shè)計,具有高轉(zhuǎn)換速率、寬帶寬和低噪聲操作。
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  • CGO-4半導體封裝材料4英寸真空探針臺帶顯微鏡
    CGO-4半導體封裝材料4英寸真空探針臺帶顯微鏡

    更新時間:2025-02-28

    型號:CGO-4

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    半導體封裝材料4英寸真空探針臺帶顯微鏡是一種能夠在高真空環(huán)境下進行精確測量和實驗的設(shè)備。其基本原理是利用真空環(huán)境下的物理現(xiàn)象和特性,對樣品進行各種實驗和測量。在高真空環(huán)境中,氣體分子很少,這有助于減少空氣阻力、空氣振動和其他干擾因素,從而獲得較為準確和可靠的實驗數(shù)據(jù)。
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  • CGO-2半導體材料真空探針臺電學性能測試系統(tǒng)
    CGO-2半導體材料真空探針臺電學性能測試系統(tǒng)

    更新時間:2025-02-28

    型號:CGO-2

    瀏覽量:671

    半導體材料真空探針臺電學性能測試系統(tǒng)是一種能夠在高真空環(huán)境下進行精確測量和實驗的設(shè)備。其基本原理是利用真空環(huán)境下的物理現(xiàn)象和特性,對樣品進行各種實驗和測量。在高真空環(huán)境中,氣體分子很少,這有助于減少空氣阻力、空氣振動和其他干擾因素,從而獲得較為準確和可靠的實驗數(shù)據(jù)。
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  • 優(yōu)良功能材料電測綜合測試系統(tǒng)
    優(yōu)良功能材料電測綜合測試系統(tǒng)

    更新時間:2025-03-11

    型號:

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    優(yōu)良功能材料電測綜合測試系統(tǒng)是用于鐵電、熱釋電、壓電材料和電卡材料各種重要性能參數(shù)測試的最基本儀器設(shè)備,可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電/電卡薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。它不僅可作為近代物理實驗中的固體物理實驗設(shè)備,還可作為工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲器的鐵電性能檢測設(shè)備。
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  • 橡膠塑料電壓擊穿試驗儀
    橡膠塑料電壓擊穿試驗儀

    更新時間:2025-04-07

    型號:

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    橡膠塑料電壓擊穿試驗儀采用計算機控制,可對試驗過程中的各種數(shù)據(jù)進行快速、準確的采集、處理,并可存取、顯示、打印。
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  • 絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)
    絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)

    更新時間:2025-02-28

    型號:

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    離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化(離子遷移)評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備。
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