Huace FE-3000針對不同材料應變測量設計了塊體與薄膜應變測試兩種測量夾具,以下是兩款夾具的介紹:
1. 高分辨率pm級測量平臺-振動激光干涉測量D33;
2. 可評估piezoMEMS,也可方便實現(xiàn)塊體與薄膜的夾持;
3. 0.01nm分辨率,2MHz帶寬;
4. 可實現(xiàn)在RT~250℃的溫度下進行測量。
1. 電極較大可調行程不小于3mm,分辨率0.01mm;
2. 較大樣品尺寸小于30mm;
3. 樣品盒較大試驗電壓不低于10kV;
4. 較大加熱溫度:RT~250℃;
5. 采用進口品牌溫度控制器;
6. 具有過溫與過流保護功能。
激光測振儀+變溫塊體測試盒
1. 電極較大可調行程不小于3mm,分辨率0.01mm;
2. 較大樣品尺寸小于30mm;
3. 樣品盒較大試驗電壓不低于10kV;
4. 較大加熱溫度:RT~800℃;
5. 采用進口品牌溫度控制器;
6. 具有過溫與過流保護功能。
激光測振儀+高溫塊體測試盒
1. 適用于器件與塊體材料應變測量;
2. 較大樣品尺寸小于40mm;
3. 樣品盒較大試驗電壓不低于2kV;
4. 較大加熱溫度:-196℃ - 250℃;
5. 采用進口品牌溫度控制器;
6. 具有過溫與過流保護功能。
激光測振儀高低溫測試夾具
激光測振儀與薄膜壓電測試(E31)相結合,可測量沉積在懸臂上的壓電薄膜的壓電系數(E31、D31和E33)。施加在壓電薄膜上的電壓使基板向各個方向彎曲。位移由激光測試振儀進時高速測量。使用薄膜壓電測試套件進行的測量包括(但不限):E31、D31、D33、E33與厚度位移與電壓的關系。
薄膜懸臂梁測試夾具
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